CaracterísticasFunciónGaleríaDescargar
El detector de defectos ultrasónico digital CTS-4020E es adecuado para diversas demandas de detección, tales como piezas forjadas, líneas de soldadura y piezas de avión.
- Función de prueba de frecuencia de la sonda.
- Función de medición del ángulo de la sonda (valor K).
- Variable PRF: evita las señales de reverberación durante la detección de defectos.
- Batería de litio de gran capacidad para un funcionamiento continuo durante 6 horas.
- LCD TFT de alto brillo, con efecto optimizado para lectura y medición.
- Función de visualización de diferenciación de color para las señales de segundo eco, cuando se detecta con una sonda angular.
- Comunicación ethernet para lograr comunicación en tiempo real con un PC y control remoto.
- Memoria grande para guardar hasta 1000 conjuntos de datos, incluyendo formas de onda, curvas, parámetros, informes de detección, etc.
- Puerto USB para guardar datos almacenados del sistema y formas de onda de datos en un disco USB, así como informes de detección de impresión fácil.
- 10 formas de onda y colores de caracteres están disponibles para la selección.
- Exhibición del eco de RF (radiofrecuencia): bueno para medir material de la pared fina, investigación académica o análisis cualitativo.
- Función de memoria de valor máximo y función de comparación de eco: útil para escanear, medir y comparar rápidamente piezas de trabajo.
- Función Cineloop para registrar el proceso de escaneo dinámico.
- Gama de frecuencia de funcionamiento: 0.5 ~ 15MHz, destaca ventajas de alta sensibilidad y banda ancha.
- Función de seguimiento de onda de interfaz: La detección de inmersión o medición de precisión se puede lograr fácilmente a través de la relación lógica entre las compuertas A y B.
- Función de curva DAC y TCG completa: conveniente para la evaluación del eco, adecuada para la detección in situ, como detección en piezas forjadas grandes y material de cristal grueso.
Detección en piezas grandes forjadas
Análisis cualitativo del eco
Detección en placas finas
Capacidad para encontrar pequeños defectos (0.5FBH)